貝克休斯SEB2-ISO雙晶直探頭

應(yīng)用 ?腐蝕剩余壁厚測量 ?近表面探傷 ?小部件 - 螺釘、螺栓、銷釘 ?堆焊層檢測 ?粘結(jié)檢測 ?鐵路車輪檢測 ?軸、棒、坯料的芯部缺陷 ?適用于粗晶粒材料檢測 功能特點和優(yōu)勢 ?出色的近表面分辨率 ?提高了在彎曲和粗糙表面上的耦合效果 ?減少散射噪聲 ?可根據(jù)工件曲率加工探頭曲率 ?歐式型號具有側(cè)面安裝的 Lemo 00 連接器、側(cè)面安裝的 Microdot（SEB..KF 型）。 ?美式型號具有固定的 BNC 線纜 (ADP) 或側(cè)面安裝的 MMD (FDU)接口

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