美國(guó)GE MB2S-EN超聲探頭
應(yīng)用
用于檢測(cè)簡(jiǎn)單形狀的工件中平行于表面的缺陷
鍛件、鑄件
金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、機(jī)器零件、殼體
特點(diǎn)
縱波單晶探頭
適合DGS缺陷評(píng)判
性能參數(shù)誤差小，適合高精度檢測(cè)
可更換保護(hù)膜，保護(hù)探頭不被磨損
柔性保護(hù)膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合
合金壓鑄殼體，堅(jiān)固耐用
用于高溫檢測(cè)時(shí)可加裝高溫延遲塊（定制產(chǎn)品）
系列
型號(hào)
頻率
(MHZ)
接口方向
帶寬
晶片直徑
接口類型
保護(hù)膜
BS
B1S-EN
1
側(cè)裝
25
24mm
Lemo 01
ES45
B1S
B2S
2
B2.25SE
2.25
B4S
4
B5S
5
B1S-O
頂裝
B2S-O
B4S-O
B5S-O
MB..S系列
頻率(MHZ)
MBS
MB1S
10mm
Lemo 00
ES24
MB2S
MB2S-EN
MB4S
MB4S-EN
MB5S
MB6S
6
MB2S-O
MB4S-O
MB5S-O